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应用于空间粒子探测的Si-PIN传感器辐照测试研究

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摘要: 长期的高能电子辐照会对Si-PIN传感器的探测性能造成影响,为了考核在轨八年以上的载荷寿命要求指标,采用电子辐照源模拟空间电子环境对半导体传感器进行辐照试验,试验结果表明:传感器在接收7.64×1014的辐照剂量情况下,传感器的能量响应能力未发生改变,计数效率稍有下降;随着辐照剂量的增大,虽然传感器的漏电流不断增大,但噪声水平较平稳,传感器的性能不影响载荷的工作指标。

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[V1] 2017-01-22 09:06:57 ChinaXiv:201701.00238V1 下载全文
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